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| ARL—3520AES电感耦合等离子体发射光谱仪疑难故障的分析与排除 |
| Trouble Shooting and Fixing of Knotty Breakdown of ARL ICP-3520AES |
| 投稿时间：1995-11-15 |
| DOI： |
| 中文关键词: ICP-AES 故障 微处理器 信号 |
| 英文关键词:ICP-3520AES Breakdown Microprocessor Signal |
| 基金项目: |
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| 中文摘要: |
| 介绍了在瑞士ARL公司生产的ICP-3520AES型电感耦合等离子体原子发射光谱仪上存在的一种疑难故障的分析与排除过程,对同类型仪器的故障分析有借鉴作用。 |
| 英文摘要: |
| The shooting and fixing of the knotty breakdown of a ARL ICP-3520AES is described. |
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